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ET-2型電解測厚儀是結(jié)合國內(nèi)外*技術(shù)的金屬鍍層電解測厚儀,具有結(jié)構(gòu)良好,性能穩(wěn)定可靠,功能齊全的特點。
ET-1型微電腦多功能庫倫測厚儀是一代的金屬鍍層電解測厚儀。 電解測厚儀:是根據(jù)電化學中的庫侖定理(Q=nF)與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物,具有結(jié)構(gòu)良好,性能穩(wěn)定可靠,功能齊全的特點。對多數(shù)非合金型金屬鍍層厚度的測定適用.
ET-3型微電腦多功能庫倫測厚儀是一代的金屬鍍層電解測厚儀,該儀器是根據(jù)電化學中的庫侖定理(Q=nF)與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。 庫倫測厚儀:具有結(jié)構(gòu)良好,性能穩(wěn)定可靠,功能齊全的特點。對多數(shù)非合金型金屬鍍層厚度的測定適用,是標準中*的一種鍍層測厚方法一庫侖法類儀器。
HQT-IC多層鎳庫侖法電解測厚儀 銅、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等鍍層。包括復(fù)合鍍2層或3層的每一層不同金屬鍍層的厚度也可測定.
UM-2超聲波測厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
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